Nicomp 380 Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）检测ZETA电位。粒径检测范围 0.3nm – 10μm，ZETA电位检测范围为+/- 500mV。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（ Gaussian）单峰算法和拥有专利技术的 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极，一个电极可以使用成千上万次。另外，采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度，亦帮用户大大节省检测成本。
